MICROSCOPIO
Microscopia Electrónica de Barrido | Servicios | Contacto
1. Observación de muestras.
Microscopio Electrónico de Barrido de presión variable marca Jeol, modelo JSM-6360 LV, con capacidad de aumento hasta de X300000, cuenta con detectores para electrones secundarios y retro-dispersados y rayos X. Captura de imágenes en formato digital de alta resolución. Cámara de muestras hasta de 3” de diámetro x 1” de alto.
-
Muestras procesadas.
El MEB se opera en modo convencional de alto vacío. Las muestras deben ser deshidratadas, secadas a punto crítico y metalizadas con una capa de oro o carbón.
-
Muestras frescas.
El MEB tiene integrado el modo de bajo vacío (LV) que permite la observación de muestras no conductivas y húmedas o secas, es esencial para hacer exploraciones rápidas o preliminares.
-
Observación en Platina de Enfriamiento.
Sistema de enfriamiento marca DEBEN, que cubre el rango de -25 a 50 ° C. Porta-muestras con controlador de temperatura, térmicamente aislado con una platina tipo Peltier. Adaptado a un MEB-LV es muy útil para controlar la evaporación de agua en muestras húmedas. Con este sistema se minimizan los cambios en la estructura de la muestra por efecto del vacío.
2. Microanálisis por EDS
Contamos con el Sistema de Microanalisis elemental por rayos X (EDS), marca Oxford mod. INCA Energy 200. Detector se Si (Li) con una resolución espectral para análisis a partir de B y hasta U. Genera espectros, mapeo y adquisición digital de imagen.
3. Secado por punto critico.
Secador a Punto Critico marca TOUSIMIS, modelo SAMDRI 795, para un volumen máximo de 25 ml. Recomendado para el tratamiento de muestras húmedas previamente fijadas.
4. Recubrimiento de Muestras para MEB.
Metalizador de muestras marca DENTON VACUUM / DESK II para oro y carbón. Proporciona un recubrimiento conductivo uniforme.
Esencial para la preparación de muestras biológicas, cerámicas, polímeros, micro-electrónicos, semiconductores, etc...
Microscopia Electrónica de Barrido | Servicios | Contacto
El Microscopio Electrónico de Barrido (MEB), es un instrumento destinado a estudiar fenómenos de emisión secundaria para la formación de la imagen, producido por un barrido con un haz de electrones en áreas seleccionadas de la superficie del espécimen. El MEB permite un rango de aumentos que va desde 15 a 300,000 veces, dependiendo de la naturaleza y la forma del material examinado.
En las imágenes también se observan variaciones de contraste, debido a diferencias en la estructura atómica, ya que aparte de los electrones que llegan al detector son en realidad electrones secundarios producidos por electrones previamente retrodispersados.
La Microscopia Electrónica de Barrido tambien permite realizar análisis cualitativos y cuantitativos de elementos por energía dispersiva de rayos-X (EDS), para obtener un espectro de elementos químicos de los cuales esta formada la muestra. Los resultados se dan en porcentaje de peso atómico y en porcentaje de número de elementos de los cuales está formada la muestra analizada.
El microanalisis por EDS permite un análisis de áreas de hasta 1mm2. Solo en muestras planas y bien pulidas es posible hacer análisis cuantitativo al comparar la intensidad de los rayos X obtenidos, con la producida en una muestra estándar (patrón) de composición conocida. La precisión de un análisis cuantitativo es mayor del ± 2% y los límites de detección están alrededor de las 100 ppm en análisis rutinarios, llegando a ser de 10 ppm en circunstancias excepcionales.
Junto con el desarrollo de la MEB, el campo de aplicación se ha ido extendiendo y algunas aplicaciones actuales son: caracterización morfológica y analítica superficial de materiales diversos, procesos de difusión, Segregación, análisis de fallas, control de calidad, irregularidades de piezas fabricadas en cadena, etc…
En este contexto el MEB-CICY ofrece:
Análisis morfológico de:
- Microestructura de superficies de diferentes tipos de materiales: tejidos, plásticos, metales, aleaciones, polímeros, cerámicos, etc.
- Estructuras duras y blandas de invertebrados marinos
- Morfología de semillas, pólenes y otros órganos vegetales
- Morfología de microorganismos
- Morfología de alteraciones experimentales en organismos vivos y patología
- Fases y transiciones, composición, tamaño de grano, valoración de deterioro, defectos, degradación, etc.
- Microestructuras sin deformar y deformadas
- Superficies, capas finas e interfases
- Modos de fractura de aleaciones ligeras reforzadas y la morfología de los polvos empleados
- Alteraciones producidas por procesos de deterioro ambiental
Análisis químico de:
- Componentes inorgánicos presentes en estructuras arqueológicas
- Composición de residuos
- Minerales de pequeño tamaño, especialmente en superficies poli-metálicas (contaminantes ambientales)
- Cambios cuantitativos de la composición superficial en materiales
- Medidas y formas de micro-partículas
- Control de calidad en procesos de producción